純鎳帶經(jīng)過(guò)多次彎折，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)將出現(xiàn)明顯改變。從微觀角度分析，多次彎折致使純鎳帶內(nèi)部晶粒變形、破碎。原本有序排列的晶粒遭破壞，產(chǎn)生位錯(cuò)與晶格畸變。這一系列變化使得純鎳帶硬度增大，塑性減小，脆性增加。

 此外，內(nèi)部結(jié)構(gòu)改變會(huì)對(duì)純鎳帶電學(xué)性能產(chǎn)生影響。因位錯(cuò)與晶格畸變?cè)龆?，電子散射幾率提高，電阻值隨之上升。

 而且，多次彎折引發(fā)內(nèi)部應(yīng)力集中，使得純鎳帶更易出現(xiàn)裂紋，降低其可靠性與使用壽命，在后續(xù)使用過(guò)程中，可能提前失效。